Microscopio metallurgico verticale da ricerca BS-6024TRF
BS-6024TRF
introduzione
I microscopi metallurgici verticali della serie BS-6024 sono stati sviluppati per la ricerca con una serie di design pionieristici nell'aspetto e nelle funzioni, con ampio campo visivo, obiettivi metallurgici semi-apocromatici ad alta definizione e campo chiaro/scuro e sistema operativo ergonomico, sono nati per fornire una soluzione di ricerca perfetta e sviluppare un nuovo modello di campo industriale.
Caratteristiche
1. Eccellente sistema ottico infinito.
Con l'eccellente sistema ottico infinito, il microscopio metallurgico verticale della serie BS-6024 fornisce immagini ad alta risoluzione, alta definizione e con correzione dell'aberrazione cromatica che possono visualizzare molto bene i dettagli del campione.
2. Design modulare.
I microscopi della serie BS-6024 sono stati progettati con modularità per soddisfare varie applicazioni industriali e di scienza dei materiali.Offre agli utenti la flessibilità di creare un sistema per esigenze specifiche.
3. Funzione ECO.
La luce del microscopio si spegnerà automaticamente dopo 15 minuti dall'uscita dell'operatore.Non solo consente di risparmiare energia, ma prolunga anche la durata della lampada.
4. Comodo e facile da usare.
(1) Obiettivi Semi-APO e APO del Piano Infinito NIS45.
Con vetro ad alta trasparenza e tecnologia di rivestimento avanzata, l'obiettivo NIS45 può fornire immagini ad alta risoluzione e riprodurre accuratamente il colore naturale dei campioni.Per applicazioni speciali, è disponibile una varietà di obiettivi, inclusi quelli polarizzati e a lunga distanza di lavoro.
(2) Nomarski DIC.
Con il modulo DIC di nuova concezione, la differenza di altezza di un campione che non può essere rilevata con il campo chiaro diventa un'immagine in rilievo o 3D.È ideale per l'osservazione di particelle conduttrici LCD e graffi superficiali di dischi rigidi, ecc.
(3) Sistema di messa a fuoco.
Per rendere il sistema adatto alle abitudini operative degli operatori, la manopola di messa a fuoco e il tavolino possono essere regolati sul lato sinistro o destro.Questo design rende l'operazione più confortevole.
(4) Testa trinoculare inclinabile Ergo.
Il tubo dell'oculare può essere regolabile da 0° a 35°, il tubo trinoculare può essere collegato alla fotocamera DSLR e alla fotocamera digitale, avendo uno divisore del raggio a 3 posizioni (0:100, 100:0, 80:20), la barra divisoria può essere assemblato su entrambi i lati secondo le esigenze dell'utente.
5. Vari metodi di osservazione.
Campo oscuro (wafer)
Il campo oscuro consente l'osservazione della luce diffusa o diffratta dal campione.Tutto ciò che non è piatto riflette questa luce mentre tutto ciò che è piatto appare scuro quindi le imperfezioni risaltano chiaramente.L'utente può identificare l'esistenza anche di un piccolo graffio o difetto fino al livello di 8 nm, inferiore al limite del potere di risoluzione di un microscopio ottico.Il campo oscuro è ideale per rilevare piccoli graffi o difetti su un campione ed esaminare campioni con superficie a specchio, compresi i wafer.
Contrasto di interferenza differenziale (particelle conduttrici)
La DIC è una tecnica di osservazione microscopica in cui la differenza di altezza di un campione non rilevabile in campo chiaro diventa un'immagine in rilievo o tridimensionale con contrasto migliorato.Questa tecnica utilizza la luce polarizzata e può essere personalizzata con una scelta di tre prismi appositamente progettati.È ideale per esaminare campioni con differenze di altezza minime, tra cui strutture metallurgiche, minerali, testine magnetiche, supporti di dischi rigidi e superfici lucide di wafer.
Osservazione della luce trasmessa (LCD)
Per campioni trasparenti come LCD, plastica e materiali di vetro, l'osservazione della luce trasmessa è disponibile utilizzando una varietà di condensatori.L'esame dei campioni in campo chiaro trasmesso e in luce polarizzata può essere eseguito in un unico pratico sistema.
Luce polarizzata (amianto)
Questa tecnica di osservazione microscopica utilizza la luce polarizzata generata da una serie di filtri (analizzatore e polarizzatore).Le caratteristiche del campione influenzano direttamente l'intensità della luce riflessa attraverso il sistema.È adatto per strutture metallurgiche (ad esempio, modello di crescita della grafite su ghisa nodulare), minerali, LCD e materiali semiconduttori.
Applicazione
I microscopi della serie BS-6024 sono ampiamente utilizzati negli istituti e nei laboratori per osservare e identificare la struttura di vari metalli e leghe, possono anche essere utilizzati nell'industria elettronica, chimica e dei semiconduttori, come wafer, ceramica, circuiti integrati, chip elettronici, stampati circuiti stampati, pannelli LCD, pellicole, polvere, toner, fili, fibre, rivestimenti placcati, altri materiali non metallici e così via.
Specifica
| Articolo | Specifica | BS-6024RF | BS-6024TRF | |
| Sistema ottico | Sistema ottico con correzione del colore infinito NIS45 (lunghezza del tubo: 200 mm) | ● | ● | |
| Testa di osservazione | Testa trinoculare inclinabile Ergo, inclinata regolabile 0-35°, distanza interpupillare 47mm-78mm;rapporto di divisione Oculare: Trinoculare=100:0 o 20:80 o 0:100 | ● | ● | |
| Testa trinoculare Seidentopf, inclinata di 30°, distanza interpupillare: 47mm-78mm;rapporto di divisione Oculare: Trinoculare=100:0 o 20:80 o 0:100 | ○ | ○ | ||
| Testa binoculare Seidentopf, inclinata a 30°, distanza interpupillare: 47mm-78mm | ○ | ○ | ||
| Oculare | Oculare con piano di campo super ampio SW10X/25mm, diottrie regolabili | ● | ● | |
| Oculare con piano di campo super ampio SW10X/22mm, diottrie regolabili | ○ | ○ | ||
| Oculare con piano di campo extra ampio EW12,5X/16 mm, diottrie regolabili | ○ | ○ | ||
| Oculare con piano di campo ampio WF15X/16mm, regolabile diottrie | ○ | ○ | ||
| Oculare con piano di campo ampio WF20X/12mm, regolabile diottria | ○ | ○ | ||
| Obbiettivo | Obiettivo semi-APO del piano LWD infinito NIS45 (BF e DF) | 5X/NA=0,15, WD=20 mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11 mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ● | ● | ||
| Obiettivo APO del piano LWD infinito NIS45 (BF e DF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ● | ● | ||
| Obiettivo Semi-APO del Piano LWD infinito NIS60 (BF) | 5X/NA=0,15, WD=20 mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0,3, WD=11 mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ○ | ○ | ||
| Obiettivo APO del Piano LWD infinito NIS60 (BF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ○ | ○ | ||
| Nasello
| Revolver sestuplo indietro (con slot DIC) | ● | ● | |
| Condensatore | Condensatore LWD NA0,65 | ○ | ● | |
| Illuminazione trasmessa | Lampada alogena 24V/100W, illuminazione Kohler, con filtro ND6/ND25 | ○ | ● | |
| Lampada S-LED da 3W, preimpostazione centrale, intensità regolabile | ○ | ○ | ||
| Illuminazione riflessa | Lampada alogena a luce riflessa 24V/100W, illuminazione Koehler, con torretta a 6 posizioni | ● | ● | |
| Alloggiamento lampada alogena da 100W | ● | ● | ||
| Luce riflessa con lampada LED 5W, illuminazione Koehler, con torretta a 6 posizioni | ○ | ○ | ||
| Modulo campo chiaro BF1 | ○ | ○ | ||
| Modulo campo chiaro BF2 | ● | ● | ||
| Modulo in campo oscuro DF | ● | ● | ||
| Filtro ND6, ND25 integrato e filtro di correzione del colore | ○ | ○ | ||
| Funzione ECO | Funzione ECO con pulsante ECO | ● | ● | |
| Messa a fuoco | Messa a fuoco grossolana e fine coassiale in posizione bassa, divisione fine 1μm, campo di movimento 35mm | ● | ● | |
| Massimo.Altezza del campione | 76 mm | ● |
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| 56 mm |
| ● | ||
| Palcoscenico | Tavolino meccanico a doppio strato, dimensioni 210mmX170mm;campo di movimento 105mmX105mm (maniglia destra o sinistra);precisione: 1 mm;con superficie ossidata dura per prevenire l'abrasione, la direzione Y potrebbe essere bloccata | ● | ● | |
| Porta wafer: può essere utilizzato per contenere wafer da 2”, 3”, 4”. | ○ | ○ | ||
| Kit DIC | Kit DIC per illuminazione riflessa (utilizzabile per obiettivi 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
| Kit polarizzatore | Polarizzatore per illuminazione riflessa | ○ | ○ | |
| Analizzatore per illuminazione riflessa, 0-360°girevole | ○ | ○ | ||
| Polarizzatore per illuminazione trasmessa |
| ○ | ||
| Analizzatore per illuminazione trasmessa |
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| Altri accessori | Adattatore con attacco C 0,5X | ○ | ○ | |
| 1 adattatore con attacco C | ○ | ○ | ||
| Copertura antipolvere | ● | ● | ||
| Cavo di alimentazione | ● | ● | ||
| Vetrino di calibrazione 0,01 mm | ○ | ○ | ||
| Pressore per campioni | ○ | ○ | ||
Nota: ●Abito standard, ○Opzionale
Diagramma del sistema
Dimensione
BS-6024RF
BS-6024TRF
Unità: mm
Certificato
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